Mostrar el registro sencillo del ítem

dc.contributor.authorBarraza-Contreras, Jesús Manuel
dc.date.accessioned2019-12-17T18:09:08Z
dc.date.available2019-12-17T18:09:08Z
dc.date.issued2019-09-30
dc.identifier.urihttp://cathi.uacj.mx/20.500.11961/9491
dc.description.abstractEn este artículo se desarrolla un plan de prueba de vida para un divisor óptico estándar, que permite conocer su tiempo de vida útil y su confiabilidad R(t). De acuerdo con el estándar GR-2866, las variables ambientales a analizar son temperatura (T) y humedad (H) y se deben de correr 12 muestras. Durante el análisis, 720 ciclos de T y H fueron realizados durante un periodo de prueba de 30 días (Temp. = 85°, -40° y Hum. = 85%). Así, con la finalidad de reducir el tiempo de prueba, haciendo uso del método Taguchi, el rango de temperatura más significante fue determinado. Con este nuevo rango de temperatura de prueba (T = 100°, -45° y H = 85%) en el modelo de CoffinManson, el nuevo tiempo de prueba fue de 10.33 días. Las pruebas experimentales se realizaron mediante el uso de una cámara ambiental y equipo óptico que permitió medir la cantidad de atenuación en decibeles (dB) causada por el estrés de la temperatura y humedad. Para este nuevo rango de prueba los parámetros Weibull son β = 3.19 y η = 92.47es_MX
dc.description.urihttps://recituabc.weebly.com/uploads/9/1/2/7/91274932/volumen_2__3__137_143.pdfes_MX
dc.language.isospaes_MX
dc.relation.ispartofProducto de investigación IITes_MX
dc.relation.ispartofInstituto de Ingeniería y Tecnologíaes_MX
dc.rightsAtribución-NoComercial-SinDerivadas 2.5 México*
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/2.5/mx/*
dc.subjectPrueba de vidaes_MX
dc.subjectPrueba de ciclos de temperaturaes_MX
dc.subjectModelo Coffin Masones_MX
dc.subjectConfiabilidades_MX
dc.subjectDistribución Weibulles_MX
dc.subject.otherinfo:eu-repo/classification/cti/7es_MX
dc.titleMétodo Weibull para la Reducción de Tiempo de Prueba Ambiental para Divisor Ópticoes_MX
dc.typeArtículoes_MX
dcterms.thumbnailhttp://ri.uacj.mx/vufind/thumbnails/rupiiit.pnges_MX
dcrupi.institutoInstituto de Ingeniería y Tecnologíaes_MX
dcrupi.cosechableSies_MX
dcrupi.norevista3es_MX
dcrupi.volumen2es_MX
dcrupi.nopagina137-143es_MX
dc.contributor.coauthorRodriguez Borbon, Manuel Ivan
dc.contributor.coauthorPiña Monarrez, Manuel Román
dc.journal.titleRevista de Ciencias Tecnológicas (RECIT)es_MX
dc.lgacCalidad y Mejoramiento Continuoes_MX
dc.cuerpoacademicoCalidad y Optimizaciónes_MX


Archivos en el ítem

Thumbnail
Thumbnail

Este ítem aparece en la(s) siguiente(s) colección(ones)

Mostrar el registro sencillo del ítem

Atribución-NoComercial-SinDerivadas 2.5 México
Excepto si se señala otra cosa, la licencia del ítem se describe como Atribución-NoComercial-SinDerivadas 2.5 México

Av. Plutarco Elías Calles #1210 • Fovissste Chamizal
Ciudad Juárez, Chihuahua, México • C.P. 32310 • Tel. (+52) 688 – 2100 al 09