Mostrar el registro sencillo del ítem

dc.contributor.authorMolina Salazar, Javier
dc.date.accessioned2024-01-15T20:12:12Z
dc.date.available2024-01-15T20:12:12Z
dc.date.issued2023-07-07es_MX
dc.identifier.isbn978-980-18-3662-9
dc.identifier.urihttp://cathi.uacj.mx/20.500.11961/27857
dc.description.abstractLa industria manufacturera tradicional se encuentra experimentando una rápida transformación digital debido al crecimiento tecnológico. Para mantener su competitividad, la industria y sus procesos deben adaptarse a estos cambios. Con la llegada de la industria 4.0, las fábricas están evolucionando hacia modelos más eficientes, aprovechando el valor de los datos para optimizar sus procesos. En la manufactura electrónica, una de las formas de detectar incidencias en tablillas electrónicas (PCBA) es mediante la prueba eléctrica, por lo que para identificar la causa raíz de las fallas, se utilizan técnicas tradicionales de análisis basadas en el conocimiento y la experiencia del analista. Sin embargo, este enfoque es una actividad post-mortem, que se realiza después de que la PCBA ha fallado, resultando costoso y consume tiempo. El objetivo es desarrollar un sistema inteligente que incorpore Redes Neuronales en un modelo de Big Data para automatizar el análisis de fallas en estaciones de prueba eléctrica, logrando un análisis eficiente, efectivo y en menor tiempo permitiendo mejorar la calidad y reducir los errores asociados con el factor humano. Para lograrlo, la metodología emplea la recopilación, preparación y análisis de datos, seguido del entrenamiento de la red neuronal de mapas auto organizados (SOM) y la validación. La generación de datos masivos y las redes neuronales están revolucionando el enfoque de prueba y diagnóstico. Al aprovechar estas tecnologías, las fábricas pueden identificar efectivamente las fallas, comprender mejor las causas subyacentes, lo que conduce a una mejor toma de decisiones, la mejora de la calidad y la eficiencia.es_MX
dc.description.urihttps://doi.org/10.5281/zenodo.8331176es_MX
dc.language.isospaes_MX
dc.publisherEdiciones Fractales_MX
dc.relation.ispartofProducto de investigación IITes_MX
dc.relation.ispartofInstituto de Ingeniería y Tecnologíaes_MX
dc.subjectIndustria 4.0, Inteligencia Artificial, Redes Neuronales, Big Dataes_MX
dc.subject.otherinfo:eu-repo/classification/cti/7es_MX
dc.titleSistema inteligente para el análisis de fallas en estaciones de prueba eléctrica bajo el paradigma industria 4.0es_MX
dc.typeMemoria en abstractes_MX
dcterms.thumbnailhttp://ri.uacj.mx/vufind/thumbnails/rupiiit.png
dcrupi.institutoInstituto de Ingeniería y Tecnologíaes_MX
dcrupi.cosechableSies_MX
dcrupi.subtipoInvestigaciónes_MX
dcrupi.alcanceInternacionales_MX
dcrupi.paisCosta Ricaes_MX
dc.contributor.alumno199176es_MX
dcrupi.tipoeventoCongresoes_MX
dcrupi.eventoII CONGRESO INTERNACIONAL DE INVESTIGACIÓN Y EMPRENDIMIENTO TRANSDISCIPLINARIO CIIETes_MX
dc.contributor.authorexternoDominguez Acosta, Liza Zarahi
dcrupi.pronacesEducaciónes_MX


Archivos en el ítem

Thumbnail

Este ítem aparece en la(s) siguiente(s) colección(ones)

Mostrar el registro sencillo del ítem


Av. Plutarco Elías Calles #1210 • Fovissste Chamizal
Ciudad Juárez, Chihuahua, México • C.P. 32310 • Tel. (+52) 688 – 2100 al 09