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dc.contributor.authorMendez Gonzalez, Luis Carlos
dc.date.accessioned2020-12-31T19:18:07Z
dc.date.available2020-12-31T19:18:07Z
dc.date.issued2020-11-25es_MX
dc.identifier.urihttp://cathi.uacj.mx/20.500.11961/16278
dc.description.abstractEn el análisis de confiabilidad, se utilizan diferentes técnicas de estrés para conocer la vida útil y el rendimiento de los dispositivos eléctricos mediante Prueba de vida acelerada. Una de estas técnicas de estrés es el estrés escalonado, que combina las pruebas de confiabilidad tradicionales y pruebas de sobrecarga; con este método, es fácil obtener el tiempo de falla en poco tiempo. No obstante, el análisis del estrés escalonado. Los datos pueden ser difíciles y el especialista generalmente tiene que confiar en atajos o estimaciones para obtener información confiable. A partir de datos de estrés escalonado. En este trabajo se propone un modelo basado en la distribución de Weibull, la ley de potencia inversa, el modelo de daño acumulativo y la técnica de tensión escalonada para analizar el comportamiento de dispositivos electrónicos en un escenario de tensión escalonada. Los parámetros del modelo se analizaron mediante una máxima verosimilitud. Se presenta un caso de estudio basado en motores de CC. Los resultados obtenidos en este trabajo ayudaron al departamento de diseño con el fin de mejorar la vida útil y el rendimiento del dispositivo bajo análisises_MX
dc.description.urihttps://link.springer.com/article/10.1007/s00202-020-00966-zes_MX
dc.language.isospaes_MX
dc.relation.ispartofProducto de investigación IITes_MX
dc.relation.ispartofInstituto de Ingeniería y Tecnologíaes_MX
dc.rightsCC0 1.0 Universal*
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/publicdomain/zero/1.0/*
dc.subjectReliabilityes_MX
dc.subjectWeibulles_MX
dc.subjectStep Stresses_MX
dc.subjectDC motorses_MX
dc.subject.otherinfo:eu-repo/classification/cti/7es_MX
dc.titleAnálisis de confiabilidad para motores de Corriente Directa bajo un escenario de voltaje On/Offes_MX
dc.typeReporte técnicoes_MX
dcterms.thumbnailhttp://ri.uacj.mx/vufind/thumbnails/rupiiit.pnges_MX
dcrupi.institutoInstituto de Ingeniería y Tecnologíaes_MX
dcrupi.cosechableSies_MX
dcrupi.subtipoInvestigaciónes_MX
dcrupi.alcanceNacionales_MX
dcrupi.paisMéxicoes_MX
dc.contributor.coauthorRodriguez Picon, Luis Alberto
dc.contributor.coauthorPerez Olguin, Ivan Juan Carlos
dc.contributor.coauthorGarcía, Vicente
dc.contributor.coauthorQuezada Carreon, Abel Eduardo
dc.contributor.coauthorLom Monarrez, fabiola
dc.lgacSin línea de generaciónes_MX
dc.cuerpoacademicoCalidad y Optimizaciónes_MX
dcrupi.estapublicadoSies_MX
dcrupi.numeroreporte1es_MX
dcrupi.dirigidoaUniversidad Autónoma de Ciudad Juárezes_MX


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